품목명(스펙)
엑스선회절분석기,Bruker,DE/D8 ADVANCE,Vertical/Horizontal type,XRD
영문명
X-RAY DIFFRACTOMETER,XRD
검색키워드
X-RAY DIFFRACTOMETER, 엑스선회절분석기,XRD
장비설명
- X-선은 물체에 의해 산란되어 지는데 물체를 구성하는 원자가 규칙적으로 배열 되어 있어서 각 원자에 의해 산란되는 X-선의 위상이 잘 일치하여 상호 보강 되는 경우에 회절선이 관측된다. 회절현상은 원자의 배열방법과 밀접한 관련이 있어 물질의 결정구조에 의해 X-선의 회절패턴이 정해지기 때문에 물질의 결정구조와 상태 즉, 원자의 배열과 관계가 있는 정보를 얻을 수 있다
장비구성
및
성능
잔류응력, 박막 측정 의뢰시 문의 요함. 사용신청 전 시료종류, 실험조건 명기해야 신청 접수 됨. (2θ, scan speed, step size) *기본조건 : 분말-무기물(2θ; 10-80도, step size;0.01~0.02, scan speed; 0.1s/step) -유기물(2θ; 5-60도, step size;0.02~0.04, scan speed; 0.2~0.5s/step)